测厚仪

德国EPK霍尔效应测厚仪-Minitest FH7200/FH7400
点击:536发布时间:2024-06-21

高性价比涂层测厚仪,多探头可选,屏幕180°旋转

型号:Minitest725/735/745

品牌:EPK(ElektroPhysik)

产地:德国

遵循标准:DIN、ISO及ASTM标准

简介:

德国ElektroPhysik(简称EPK)公司是一家专门生产测厚仪的专业公司,自1954年以来一直致力于测厚类产品的开发和研究工作,是生产测厚类产品的知名公司之一。半个多世纪以来,EPK公司作为测厚领域的领军公司,在这个领域取得很高的声誉,有着不可替代的地位。MiniTest 725/MiniTest 735/MiniTest 745系列是一款创新型SIDSP涂镀层测厚仪,多探头可选,屏幕可180°旋转,配有中文菜单,操作简单。


产品介绍

霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400用于测量非磁性材料的厚度。

- 测量厚度高达24mm

- 是复杂形状的瓶子、铝罐、玻璃和塑胶工件的理想测量工具

- 对于复合材料,在航空或汽车行业里的形状复杂的铝或者钛部件

- 用户菜单控制界面

- 上下文关联的在线帮助

- 统计过程控制功能

- 通过数字信号处理准确

- 探头顶端使用耐磨硬质合金

- 用于重复测量的高精度的钢珠

- 高达每秒20个数据的记录速度

- 探头集成数字信号处理

- 高达5点的多点校正

- 易于读值的大屏幕

霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400是便携式的厚度测量工具,可准确测量厚达10mm的材料。便携而小巧的外形使其可在生产现场和实验室进行操作。MiniTest7200FH/7400FH可简单,无损,高精度的测量非磁性材料的厚度,无论它们的大小、形状和材质如何。它还是尖角,小半径和复杂形状工件理想的测量工具。

霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400结构图:


技术参数

霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400技术参数


MiniTest FH7200MiniTest FH7400
原理静磁原理
数据存储100000240000
低端分辨率0.1μm(FH4)/0.2μm(FH10,FH10-M)
重复性优于±(1μm+0.5%读值)
记录速率1,2,5,10,20个读值每秒(可选)
校准模式原厂校准,零点校准,零点+多达4点校准
测量单位公制(μm,mm),英制(mils,inch)
统计图表数字数字,趋势图,柱状图
接口RS232 TTL + IrDA 1.0
操作温度-10℃ ~ +60℃(保存温度-20℃ ~ +80℃)
尺寸/重量153mm x 89mm x 32mm / 310g
供电4 x AA(LR06)电池,或可选电源(90-240V / 48-62Hz)


霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400 探头参数:

型号测量范围精度使用钢球尺寸标配数量
FH40-2mm±(3μm+1%读值)1.5mm100颗
0-3.5mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗
0-6mm±(10μm+1%读值)4mm50颗
FH4-M0-2mm±(3μm+1%读值)1.5mm100颗
0-3.5mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗
0-5mm±(20μm+2%读值)1.5mm(磁性钢球)25颗
0-6mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗
0-9mm±(40μm+2%读值)3.0mm(磁性钢球)20颗
FH100-4mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗
0-7mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗
0-10mm±(20μm+1%读值)6.0mm25颗
0-13mm±(20μm+1%读值)9.0mm10颗
FH10-M0-4mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗
0-7mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗
0-10mm±(20μm+1%读值)6.0mm25颗
0-13mm±(20μm+1%读值)9.0mm10颗
0-16mm±(40μm+2%读值)4.0mm(磁性钢球)20颗
0-24mm±(60μm+2%读值)6.0mm(磁性钢球)20颗


标准配置

主机,探头,校准桶,钢球,合格证,软件,操作手册,4电池,螺丝刀,便携箱


可选配件

小管径探头,软件,数据线



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